群馬県立産業技術センター

Gunma Industrial Technology Center

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機器分析に関する機器

27件のデータがあります。

名称 型式 メーカー 設置場所 画像
X線回折装置(XRD) XRD-6000W 島津製作所 前橋 image
顕微赤外分析システム(顕微FT-IR分析装置) Magna-IR ニコレー 前橋 image
電子スピン共鳴分析装置 JES-FR80Sシステム 日本電子(株) 前橋 image
サンプル顕微鏡 SX12(顕微鏡部)、EZ-pick(試料採取部) オリンパス株式会社 前橋 image
キャピラリー複合ガスクロマトグラフ GC-2010AF 及び GC-2014AT 島津製作所 前橋 image
赤外分光イメージングシステム Vertex70 + Hyperion3000 Bruker Optics GmH(ブルカー・オプテクス社) 前橋 image
高周波誘導結合プラズマ発光分光装置(ICP-AES) CIROS-120 CCD SPECTRO 前橋 image
大気圧直接イオン化質量分析装置 LCT Premier XE / ACQUITY UPLC System 日本ウォーターズ株式会社 前橋 image
分子量分布測定システム D5280 LCS M-PDA 株式会社島津製作所 前橋 image
高機能電子線マイクロアナライザー EPMA-8050G (株)島津製作所 前橋 image
ポリマー用凍結粉砕機 JFC-300 日本分析工業株式会社 前橋 image
卓上傾斜切削機 卓上傾斜切削機 株式会社NEAT 前橋 image
超高感度熱分析システム STA8000、DSC8000 PerkinElmer社 前橋 image
イオンクロマトグラフ Dionex ICS-1600、Dionex AS-AP 他 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 前橋 image
顕微フーリエ変換赤外分光光度計 フーリエ変換赤外分光分析装置 iS50 +赤外顕微鏡 Continumm ThermoFisher Scientific (サーモフィッシャーサイエンティフィック社) 前橋 image
ガスクロマトグラフ分析装置 キャピラリガスクロマトグフ(Nexis GC-2030AF) 株式会社島津製作所 前橋 image
飛行時間型二次イオン質量分析装置 PHI nanoTOF アルバック・ファイ(株) 前橋 image
有機元素分析装置 UNICUBE Elementar 前橋 image
モーションキャプチャ P17W オプティトラック・ジャパン㈱ 前橋 image
高機能電子線マイクロアナライザー EPMA-8050G (株)島津製作所 前橋 image
蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV、NEX DE (株)リガク 前橋 image
高感度炭素硫黄分析 CS844 LECOジャパン合同会社 前橋 image
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MSMS) トリプル四重極型 ガスクロマトグラフ質量分析計(GCMS-TQ-8050 NX)、多機能オートサンプラシステム(AOC-6000 Plus)、サーマルデソープションシステム (TD-30R) 株式会社島津製作所 前橋 image
ガスクロマトグラフ質量分析装置 7890B 5977A EGA/PY-3030D ODP3 TDU MPS2-xt アジレントテクノロジー(株)、ゲステル(株)、フロンティア・ラボ(株) 前橋 image
誘導結合プラズマ発光分析装置 SPECTROARCOS FHM32ED 株式会社日立ハイテクサイエンス 前橋 image
超高速液体クロマトグラフ ACQUITY UPLC H-Class PLUS 日本ウォーターズ株式会社 前橋 image
示差熱熱重量同時測定装置 STA2500 Regulus NETZSCH Japan株式会社 前橋 image