機器情報 詳細
表面観察試料作成装置（クロスセクションポリッシャ：CP）
| 名称 | 表面観察試料作成装置（クロスセクションポリッシャ：CP） |
|---|---|
| メーカー | JEOL |
| 型式 | クロスセクションポリッシャー SM-09020CP Mark II |
| 仕様 |
・イオン加速電圧：2～6kV ・ミリングスピード：200μm／2h以上 ・試料寸法：11mm(幅)×10mm(長さ)×2mm(厚さ)以内 |
| 用途 | ・電子顕微鏡などで観察する試料断面のイオン照射を用いた低ダメージ・精密研磨。 |
| 分類 | 形態観察 |
| 購入年度 | 2008年度 |
| 設置場所 | 群馬産業技術センター(前橋) |
| 補助事業名 |
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