名称 | 赤外分光イメージングシステム |
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メーカー | Bruker Optics GmH(ブルカー・オプテクス社) |
型式 | Vertex70 + Hyperion3000 |
仕様 |
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用途 | 金属材料、半導体材料、電子部品類、セラミックス材料、樹脂材料表面の微小異物や汚染物の化学状態解析 |
分類 | 機器分析 |
購入年度 | 2008年度 |
設置場所 | 群馬産業技術センター(前橋) |
補助事業名 |
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