名称 | 蛍光X線分析装置 |
---|---|
メーカー | (株)リガク |
型式 | ZSX Primus IV、NEX DE |
仕様 |
■波長分散型蛍光X線分析装置(ZSX Primus IV) ・上面照射型、波長分散型 ・検出範囲:ベリリウム(Be)~ウラン(U) ・分析径:0.5mm~35mmの6段階 ■エネルギー分散型蛍光X線分析装置(NEX DE) ・下面照射型、エネルギー分散型 ・検出範囲:ナトリウム(Na)~ウラン(U) ・分析径:10mm |
用途 |
・試料にX線を照射し、試料から出てくる蛍光X線を利用し、試料の元素分析を行います。 ・金属、粉末、液体などあらゆる試料の構成元素を高感度に非破壊で検出できます。 ・FP法による半定量解析が出来ます。 ・点分析、面分析などの分析が可能です。 |
分類 | 機器分析 |
購入年度 | 2020年度 |
設置場所 | 群馬産業技術センター(前橋) |
補助事業名 |
|