名称 | 大型試料台付走査型電子顕微鏡 |
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メーカー | 日本電子(株) |
型式 | JSM-6700F |
仕様 |
二次電子像分解能:1.0nm(15kV時) 倍率:×25~×650,000(常用:50,000倍程度まで) 加速電圧:0.5kV~30kV 試料室:Φ100mm×高さ40mmの試料を観察可能 コンピュータ制御5軸モータ駆動 半導体形反射電子検出器 |
用途 |
各種材料の表面や破断面の観察が行えます。 比較的大型の試料を扱うことができます。 |
分類 | 形態観察 |
購入年度 | 2001年度 |
設置場所 | 群馬産業技術センター(前橋) |
補助事業名 |
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