機器情報 詳細
低真空走査電子顕微鏡（SEM）
| 名称 | 低真空走査電子顕微鏡（SEM） |
|---|---|
| メーカー | 日本電子㈱ |
| 型式 | JSM-5600LV/JED-2200 |
| 仕様 | 分解能:3.5nm(高真空モード),5.0nm(低真空モ－ド,EDS:B～Uの元素分析可能 |
| 用途 | 電子顕微鏡観察･分析を試料の前処理なしで行う |
| 分類 | 形態観察 |
| 購入年度 | 1999年度 |
| 設置場所 | 群馬産業技術センター(前橋) |
| 補助事業名 |
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| 名称 | 低真空走査電子顕微鏡（SEM） |
|---|---|
| メーカー | 日本電子㈱ |
| 型式 | JSM-5600LV/JED-2200 |
| 仕様 | 分解能:3.5nm(高真空モード),5.0nm(低真空モ－ド,EDS:B～Uの元素分析可能 |
| 用途 | 電子顕微鏡観察･分析を試料の前処理なしで行う |
| 分類 | 形態観察 |
| 購入年度 | 1999年度 |
| 設置場所 | 群馬産業技術センター(前橋) |
| 補助事業名 |
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